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国家科学技术进步奖专利号：
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LiNbO3相位调制器性能检测系统专利号：ZL 2017 2 0174990.X
SLD光源测试系统专利号：ZL 2017 2 0171497.2
光纤敏感环性能检测系统专利号：ZL 2017 2 0180794.3
保偏光纤延时环测试系统专利号：ZL 2017 2 0171588.6
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